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產品知識

探針的分類

日期:2013/10/27 10:59:17

探針根據電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和隻開路、短路檢測探針,國內大部分的探針產品均可替代進口產品;
  B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件後的檢測探針;高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中,國內部分探針產品已研發成功,可替代進口探針產品;
  C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術還是掌握在國外公司手中,國內生產廠商積極參與研發,但隻有一小部分成功生產。
  探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。
  懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環氧樹脂型(Epoxy Type)
  垂直探針:垂直型(Vertical Type)
  1.ICT探針 (ICT series Probes)
  一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑隻有0.19mm,主要用於在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應用較多的一種探針.
  2.界麵探針(Interface Probes)
  非標準的探針,一般是為少數做大型測試機台的客戶定做的,例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用於測試機台與測試夾具的接觸點和麵.
  3.微型探針(MicroSeries Probes)
  兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
  4.開關探針(Switch Probes)
  開關探針單獨一支探針有兩路電流.
  5.高頻探針(Coaxial Probes)
  用於測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的.
  6.旋轉探針(Rotator Probes)
  彈力一般不高,因為其穿透性本來就很強,一般用於OSP處理過的PCBA測試.
  7.高電流探針(High Current Probes)
  探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
  8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
  直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大於10GHz,50Ω characteristic
  9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
  一般用於優化接觸效果,穩定性好和壽命長.
  除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.

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